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大多數(shù)光學(xué)系統(tǒng)使用紫外光檢查表面是否存在，并使用量規(guī)測量特定點的材料厚度，這無法提供所需的精度和可重復(fù)性。
由于激光的穿透深度很淺，而且經(jīng)過的時間很長，檢驗透明材料是一個挑戰(zhàn)。
測量三維形狀的傳統(tǒng)的工具是激光共焦或電子顯微鏡系統(tǒng)。
Koh Young革命性的Neptune C+為這些挑戰(zhàn)提供了終極解決方案。