大多數(shù)光學(xué)系統(tǒng)使用紫外光檢查表面是否存在,并使用量規(guī)測(cè)量特定點(diǎn)的材料厚度,這無法提供所需的精度和可重復(fù)性。由于激光的穿透深度很淺,而且經(jīng)過的時(shí)間很長(zhǎng),檢驗(yàn)透明材料是一個(gè)挑戰(zhàn)。測(cè)量三維形狀的傳統(tǒng)的工具是激光共焦或電子顯微鏡系統(tǒng)。Koh Young革命性的Neptune C+為這些挑戰(zhàn)提供了終極解決方案。
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